Agrupamiento

Ventana de agrupamiento

Como alternativa al ajuste de plantilla, se pueden clasificar los picos por corte de agrupamiento. Los valores calculados por PCA o las mediciones definidas por el usuario se trazan en una ventana tridimensional de agrupamiento.

• La vista puede girarse en 3 dimensiones con el ratón o con la corredera
• Media K y algoritmos de mezcla normales para la separación automática de agrupamientos
• Separación manual de agrupamiento por colocación de elipses
• Vista de puntos desde un porcentaje de la gama total del tiempo y del paso a través del tiempo para seguir el movimiento de los agrupamientos
• Generar histogramas de intervalo basados en los agrupamientos visualizados
• Mostrar y ocultar los agrupamientos particulares
• Identificación visual de los picos agrupados que ocurren dentro de un período refractario especificado
• Opción de trazado de densidad para ayudar a identificar el agrupamiento
• Copiar los valores como texto (valores de datos subyacentes y mostrar las coordinadas)
• Seleccionar picos individuales con un clic del ratón para clasificarlos manualmente

Análisis del componente principal

• Seleccionar los componentes principales para trazarlos en los ejes X, Y y Z
• Calcular los componentes de los canales de rastreo múltiple (estereotrodo o tetrodo) basados en una forma de onda completa, amplitud de pico o proporción de amplitudes de pico a media

Mediciones definidas por el usuario

• Seleccionar las mediciones de los ejes X, Y y Z para agrupar los datos
• Medir tiempos, amplitudes, pendientes y áreas
• Guardar hasta 10 configuraciones que contengan conjuntos diferentes de mediciones
• Para los datos de rastreo múltiple, medir el rastreo individual o la media de las mediciones de los rastreos