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分析

リーク減算
  • オンラインとオフラインでリーク・データを定義づける 3 つの方法
  • 容量性過渡値を含む、オンラインとオフラインのスケール設定されたリーク・トレースの減算
  • 選び出されたダイナミック・クランプ・モデルを使って、オンラインで現在のクランプの特定のリークを減算します

測定プロット

Signal のトレンドおよび測定プロット機能は、オンラインとオフラインの両方で記録されたデータから取った測定値のグラフを生成します。 選択された各フレームについて、個々のイベントまたは複数イベントから測定値を取り、XY 座標でプロットします。複数の活動電位から IV 曲線または測定値を生成するのが一般的jな例でしょう。

皮質内の Fast Spiking 介在ニューロンに接続された
錘体細胞からの対記録の解析†


曲線フィット

関数を元のあるいはリーク減算のデータとトレンド・プロットにフィットさせます。

  • フィット・タイプには以下が含まれます:

    • 指数、1 次また 2 次
    • ガウス値、1 または 2
    • 多項式、1 次から 5 次
    • S 字型(Boltzmann)曲線
  • 最適なフィット(当てはめ)係数と信頼性の推定値が与えられます
  • フィット係数をトレンド・プロットに表示

 

複数のトレースでの指数曲線フィッティング

†データは Dr. Afia Ali、ロンドン大学薬学部の好意によります。

Cambridge Electronic Design Limited

イギリスで登録済み: 00972132

登録事務所:

  • Cambridge Electronic Design Limited,
  • Technical Centre,
  • 139 Cambridge Road,
  • Milton,
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VAT: GB 214 2617 96

プロデューサー登録番号: WEE/BD0050TZ

販売規約

米国のお客様には、英国の会社であることを示すW-8BEN納税フォームを提供できます。.

DUNS: 219151016
CAGE/NCAGE: KB797
NAICS: 423490
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Hardware: 84716070
Software: 85234945
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