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高度な機能

多個取樣條件

Signal包含完整的多輸出狀態系統,可以用來設置不同的輸出集。每個刺激的順序和重複可以用預先定義的協議排序,也可以半隨機或完全隨機執行。記錄資料的每次掃描都有標記,說明使用的刺激, 波形求平均值和自動測量等分析可以線上或脫機應用到特定的狀態或狀態組合上。

動態鉗制

高速和高度集成函數來類比離子通道和漏電,使用類比突觸產生混合網路

叠加噪聲的指數差异神經鍵模型,隨機內部觸發

全細胞電壓鉗和電流鉗

用圖形序列器以互動的方式控制鉗制電位和脈衝輸出。線上和離線繪製I/V圖、漏減和曲線擬合。用動態鉗刺激離子通道、漏電流和神經鍵。

單通道膜片鉗

自動線上和離線檢測單水準和多水準通道開口。進行開放/關閉時間和振幅等測量,顯示結果直方圖。

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下面這個視頻教程教你如何使用閾值檢測
方法分析單通道資料。

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在單通道膜片鉗資料分析上,Signal有很多功能,包括:使用閾值檢測生成理想軌跡,生成駐留時間和幅度柱狀圖。下面這個視頻教程教你如何使用閾值檢測方法分析單通道資料。

Cambridge Electronic Design Limited

在英國註冊: 00972132

註冊辦事處:

  • Cambridge Electronic Design Limited,
  • Technical Centre,
  • 139 Cambridge Road,
  • Milton,
  • Cambridge CB24 6AZ
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生產者註冊號: WEE/BD0050TZ

銷售條款和條件

對於我們的美國客戶,我們可以提供W-8BEN稅表,該表將我們標識為英國公司.

DUNS: 219151016
CAGE/NCAGE: KB797
NAICS: 423490
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Hardware: 84716070
Software: 85234945
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通过电子邮件:

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